BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//C-O-K//Seminars//RU
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
BEGIN:VEVENT
UID:seminar-14595@c-o-k.ru
DTSTAMP:20260713T222424Z
DTSTART:20260806T100000Z
DTEND:20260806T113000Z
SUMMARY:Мониторинг\, поиск отклонений и дефе
 ктоскопия по данным ТЛО. Часть 1
DESCRIPTION:Преподаватель вебинара: Никитин А
 ндрей Андреевич — к.т.н.\, генеральный ди
 ректор ООО «АЕМ Гео»\n\nВ процессе вебина
 ра будут рассмотрены следующие вопросы:\
 n\nНа вебинаре будет рассмотрено практич
 еское применение данных трёхмерного лаз
 ерного сканирования для мониторинга сос
 тояния объектов\, поиска отклонений и вы
 явления дефектов. Участники разберут\, к
 ак из облака точек перейти к инженерно з
 начимому анализу поверхностей\, геометр
 ии конструкций и изменений во времени. 
 Особое внимание будет уделено качеству 
 исходных данных\, валидации облаков точе
 к и подготовке материалов к дальнейшей 
 обработке в специализированном програм
 мном обеспечении. Основные подходы к ср
 авнению проектного и фактического поло
 жения\, анализу деформаций\, неровностей\
 , прогибов\, смещений и локальных дефект
 ов. Отдельный блок будет посвящён типовы
 м ошибкам интерпретации результатов и о
 собым случаям\, когда автоматический ана
 лиз требует дополнительной инженерной п
 роверки. Вебинар будет полезен специали
 стам ТИМ\, которые работают с цифровыми 
 моделями\, исполнительной документацией
 \, обследованием и мониторингом зданий и
  сооружений.\n\n\n	Что можно и что нельзя д
 остоверно определить по данным трёхмерн
 ого лазерного сканирования\n	Валидация о
 блаков точек: плотность\, шум\, полнота по
 крытия\, привязка и контроль точности\n	П
 одготовка облаков точек к анализу: филь
 трация\, классификация\, сегментация и п
 остроение поверхностей\n	Сравнение факт
 ической геометрии с проектной моделью\, 
 исполнительной съёмкой или предыдущими 
 циклами наблюдений\n	Методы выявления от
 клонений\, дефектов\, деформаций\, прогиб
 ов и локальных изменений поверхностей
LOCATION:время московское
URL:https://www.c-o-k.ru/seminars/monitoring-poisk-otkloneniy-i-defektoskop
 iya-po-dannym-tlo-chast-1
END:VEVENT
END:VCALENDAR